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检测对象:半导体器件
检测项目:电子器件
检测依据:GJB128A-1997、GJB33A-1997、GB4587-1994、GJB597A-1996、GJB548B-2005、GJB2438A-2002
检测分类:元器件筛选-电子器件-半导体器件


半导体器件检测项目简介

1)晶体管、场效应管、晶闸管、可控硅等

根据其电特性参数,使用专门仪器设备测试放大倍数、基极电流、饱和电流、反向电压、反向漏电流参数

检测项目:

 放大倍数、基极电流、饱和电流、反向电压、反向漏电流

参考标准:

 GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

GJB33A-1997 半导体分立器件 总规范;

GB4587-1994  半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管;


2)模拟集成电路

根据其电特性参数,使用专门仪器设备测试失调电压、失调电流、线性调整率,增益、功耗,负载调整率、共模抑制比参数。

检测项目:

失调电压、失调电流、线性调整率,增益、功耗,负载调整率、共模抑制比。

参考标准:

GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序

GJB597A-1996 半导体集成电路总规范


3)数字集成电路

根据其电特性参数,使用专门仪器设备测试逻辑功能、输入高电平电压/电流、输入低电平电压/电流、电源电流、输出高电平电压/电流,输出低电平电压/电流、延迟时间、阈值电压参数。

检测项目:

逻辑功能、输入高电平电压/电流、输入低电平电压/电流、电源电流、输出高电平电压/电流,输出低电平电压/电流、延迟时间、阈值电压。

参考标准:

GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

GJB597A-1996半导体集成电路总规范

 

4)混合集成电路

 根据其电特性参数,使用专门仪器设备测试输出电压、输出电流、电压调整率、负载调整率、效率、纹波参数

检测项目:

输出电压、输出电流、电压调整率、负载调整率、效率、纹波

参考标准:

GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序

GJB2438A-2002 混合集成电路通用规范





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