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检测对象:晶粒结构参数分析
检测项目:微观形貌与结构分析
检测依据:JY/T009-1996;
检测分类:材料检测-微观形貌与结构分析-晶粒结构参数分析


晶粒结构参数分析检测项目简介

当材料被X射线照射产生不同程度的衍射现象时,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱,XRD不仅能够进行快速物相鉴定、分析各结晶相的比例还可以快速测试出点阵参数,为新材料开发应用提供性能验证指标,分析点阵畸变和微应力,为产品失效分析提供依据。

检测仪器:X射线粉末衍射仪




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